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离子束分析技术在靶材料分析中的应用

更新时间 2008-5-6 15:41:11 点击数:

全部作者: 安竹 刘慢天 叶沥 廖家莉 第1作者单位: 4川大学原子核科学技术研究所 论文摘要: 本文重点介绍了近几年在4川大学原子核科学技术研究所开展的离子束分析技术工作。这些工作主要包括常规卢瑟福背散射分析、增强质子背散射分析以及内束和外束质子诱发X射线荧光分析的应用,特别是对1些靶材料样品的分析。 关键词: 离子束分析技术;卢瑟福背散射分析;质子诱发X射线荧光分析 (浏览全文) 发表日期: 2007年10月18日 同行评议:

1、这篇文章作为综述性文章,应首先对技术本身作1些简单的介绍。希望作者能补充1点这方面的内容。 2、作者在介绍离子束分析技术在靶材料分析中的应用时,引用了1些已发表的结果,但对这些结果的说明有的地方不是很清晰。  

综合评价: 修改稿: 注:同行评议是由特聘的同行专家给出的评审意见,综合评价是综合专家对论文各要素的评议得出的数值,以1至5颗星显示。

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